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商品描述
賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀可進(jìn)行全自動(dòng)、高通量的表面分析，提供用于推進(jìn)研發(fā)或解決生產(chǎn)問題的數(shù)據(jù)。 集成 XPS 與離子散射譜(ISS)、紫外光電子能譜 (UPS)、反射電子能量損失譜(REELS)和拉曼光譜，讓您進(jìn)行真正的聯(lián)用分析。
標(biāo)準(zhǔn)化性能：
·絕緣體分析
·高性能XPS性能
·深度剖析
·多技術(shù)聯(lián)合
·雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴(kuò)展
·用于 ARXPS 測量的傾斜模塊
·用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報(bào)告生產(chǎn)的 Avantage 軟件
·小束斑分析
可選的升級(jí)：可將多種分析技術(shù)集成到您的檢測分析中。式自動(dòng)運(yùn)行
·ISS：離子散射譜，分析材料表面1-2原子層元素信息，通過質(zhì)量分辨可分析一些同位素豐度信息。
·UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導(dǎo)體材料的價(jià)帶能級(jí)結(jié)構(gòu)信息以及材料表面功函數(shù)信息
·拉曼：拉曼光譜技術(shù)用于提供分子結(jié)構(gòu)層面的指紋信息
·REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級(jí)結(jié)構(gòu)和帶隙信息
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